電子部材・部品の分析・評価
SCASSは、超微量評価や組成解析、信頼性評価に至るまで、問題解決型のソリューションを提供しています。専門的知識と経験、最先端の技術を使った分析サービスを通して、エレクトロニクステクノロジーの発展に貢献しています。
材料分析・評価 |
製造設備の評価 |
- 高純度化学品の分析
- ユーズポイントに使用される化学品による劣化の分析・評価
- 高純度ガス、微量金属、微量不純物の分析
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- 装置材料の評価
- 各種プラスチック、金属、ガラス、エアフィルター等からの微量汚染物質測定
- シリコン製品、断熱材原料における不純物定性・定量分析
- 腐食原因解析
- 付着異物、粘着物の定性
- 原因究明および改善措置のための分析
- 環境空気およびクリーンルームエア分析
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デバイス表面の分析・評価 |
開発評価 |
- ウェーハ表面の微量不純物分析
- 電子顕微鏡による薄膜観察および構造解析
- ナノメートル範囲の分析
- 各種成膜の定性・定量分析
- BPSG組成、 微量汚染分析
- 製品中の金属規格分析
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- 化学品の合成
- 液晶、感光性物質の合成
- 腐食環境での耐久性評価
- 信頼性評価
- 気温、湿度、腐食ガス
- 化学品の安全性試験 例:溶剤、洗剤濃度や反応による副生成物の分析
- 排水、溶剤、化学品、樹脂のリサイクル評価試験
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電子部品の分析・評価 |
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- SEM-EDX、μFT-IRによる異物分析、表面分析
- 欠陥解析
- アウトガス評価:トラブル要因となる有機物の解析
- 半導体装置、建材、容器、接着剤、原料その他からのアウトガス分析
- 製造環境の汚染要因調査
- 部品の化学物質分析
例:HDD関連部品評価、クリンリネス試験
クラッシュストッパー 、シールコネクター、イオン分析(陽イオン6種、
陰イオン7種+シュウ酸塩)
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